Областной научный семинар «Современные проблемы радиоэлектроники»

Областной научный семинар «Современные проблемы радиоэлектроники»
12.02.2024

Областной научный семинар «Современные проблемы радиоэлектроники»

8 февраля 2024 г. в Ульяновском филиале Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук состоялось юбилейное, посвященное 300-летию Российской академии наук, заседание Областного научного семинара «Современные проблемы радиоэлектроники» на тему: «Состояние и перспективы реализации проектов по направлению «Микроэлектроника» в университетах и научных учреждениях г. Ульяновска». Участниками мероприятия стали представители высших учебных заведений, научных организаций и промышленных предприятий Ульяновска, Москвы, Зеленограда, Саратова, Санкт-Петербурга.

Состоялись доклады:

1. Никитов Сергей Аполлонович, академик РАН, директор ИРЭ им. В.А.Котельникова РАН «ИРЭ им.В.А. Котельникова РАН – на передовых рубежах микроэлектроники».

2. Светухин Вячеслав Викторович, член-корр. РАН, директор НТК Технологический центр «Создание и развитие Дизайн-центра изделий микроэлектроники».

3. Фотиади Андрей Александрович, ведущий научный сотрудник Ульяновского государственного университета «Технологии фотоники и нелинейной оптики в микроэлектронике».

4. Черняков Антон Евгеньевич, старший научный сотрудник Научно-технологического центра микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук «Перспективные исследования и разработки НТЦ микроэлектроники РАН».

5. Климовский Андрей Борисович, проректор по научной работе Ульяновского государственного технического университета «Проекты по направлению «Микроэлектроника» в Ульяновском государственном техническом университете».

6. Козлов Дмитрий Владимирович, руководитель Центра нанотехнологий и материалов Ульяновского государственного университета «Синтез и исследование материалов с высокой теплопроводностью для применения в микроэлектронике».

7. Сергеев Вячеслав Андреевич, и.о. директора УФИРЭ им. В.А.Котельникова РАН «Задачи и перспективные методы диагностики изделий микроэлектроники».

В завершении семинара состоялась дискуссия, в ходе которой участники обсудили выступления и обменялись мнениями.


← Назад к списку новостей