Публикации

Публикации 61 - 75 из 646
Начало | Пред. | 3 4 5 6 7 | След. | Конец Все
  • Frolov, I. V. Measurement of the internal quantum efficiency of emission in the local region of the LED chip / I. V. Frolov, O. A. Radaev, V. A. Sergeev // Book of Abstracts. 9th International School and Conference on Optoelectronics, Photonics, Engineering and Nanostructures «Saint Petersburg OPEN 2022». St Petersburg, Russia, May 24 – 27, 2022. – National Research University Higher School of Economics, 2022.
  • Сергеев, В.А. Диагностический контроль качества светодиодов по тепловым характеристикам / В.А. Сергеев, О.А. Радаев, И.В. Фролов // Журнал радиоэлектроники [электронный журнал]. – 2022. – №7. читать>>
  • Фролов, И.В. Диагностический контроль качества светодиодов по локальным параметрам электролюминесценции и фототока / И.В. Фролов, В.А. Сергеев. Монография. – М.: СОЛОН-Пресс, 2023. – 160 с. читать>>
  • Свидетельство о госрегистрации Пр ЭВМ № 2021619134. Программа расчёта теплового сопротивления по кривой аппроксимации напряжения после прохождения греющего импульса / Гавриков А.А., Смирнов В.И.; ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН .– заявка № 2021618374 от 31 мая 2021.– госрегистрация в реестре ПрЭВМ 04. 06. 2021.
  • Патент РФ 2739480. Способ сравнительной оценки партий транзисторов по качеству и надежности / Горлов М.И., Сергеев В.А., Винокуров А.А., Шишкин И.А.; ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН .– заявка № 2020117907 от 20 05 2020.– публ. 24.12.2020, бюл. № 36.
  • Патент РФ 2744716. Способ определения теплового сопротивления кмоп цифровых интегральных микросхем / Юдин В.В., Сергеев В.А., Тетенькин Я.Г., Ламзин В.А., Козликова И.С.; УлГТУ.– Заявка № 2020103516 от 27.01.2020.– публ. 15.03.2021,бюл. № 8.
  • Патент РФ 2743708. Способ неразрушающей диагностики интегральных схем / Горлов М.И., Сергеев В.А., Винокуров А.А., Тетенькин Я.Г.; ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН .– Заявка № 2020109812 от 05.03.2020.– опуб. 24.02.2021, бюл. № 6.
  • Патент РФ 2740433. Способ измерения внутреннего квантового выхода светодиода / Сергеев В.А., Фролов И.В.; ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН.– Заявка № 2020116923 от 12.05.2020.– публ. 14.01.2021, бюл. № 2.
  • Черторийский, А.А. Анализ динамических характеристик многоэлементной фотоприемной линейки / А.А. Черторийский // Радиоэлектронная техника: межвузов. сб. науч. тр. – Ульяновск: УлГТУ.–2021. – С. 107–115.
  • Ходаков, А. М. Моделирование тепловых процессов, возникающих при воздействии импульсного лазерного излучения на InGaN/GaN светодиод / Ходаков А.М., Фролов И.В., Сергеев В.А., Радаев О.А. // Радиоэлектронная техника: межвузов. сб. науч. тр. – Ульяновск: УлГТУ.–2021. – С. 81–87.
  • Фролов, И.В. Исследование зависимости темпа изменений мощности излучения InGaN светодиодов в процессе работы от режима импульсной токовой тренировки / Фролов И.В., Сергеев В.А., Радаев О.А. // Радиоэлектронная техника: межвузов. сб. науч. тр.– Ульяновск: УлГТУ.–2021. – С. 88–92.
  • Сергеев, В. А. Определение тепловых параметров светодиода по температурному спаду яркости излучения / В.А. Сергеев, И.В. Фролов, О.А. Радаев, С.А. Зайцев, И.С. Козликова // Радиоэлектронная техника: межвузов. сб. науч. тр. – Ульяновск: УлГТУ.–2021. – С. 153–160.
  • Радаев, О.А. Измерение характеристик фотодиодных оптопар при ускоренных испытаниях /О.А. Радаев, И.В. Фролов, В.А. Сергеев // Радиоэлектронная техника: межвузов. сб. науч. тр. – Ульяновск: УлГТУ.–2021. – С. 161–165.
  • Радаев, О.А. Аппаратно-программный комплекс для измерения внутренней квантовой эффективности InGaN/GaN светодиодов /О.А. Радаев, И.В. Фролов, В.А. Сергеев // Радиоэлектронная техника: межвузов. сб. науч. тр. – Ульяновск: УлГТУ.–2021. – С. 116–123.
  • Веснин, В.Л. О возможности применения полупроводниковых лазеров и суперлюминесцентных диодов при создании приборов для обнаружения метанола / В.Л. Веснин, А.М. Низаметдинов // Радиоэлектронная техника: межвузов. сб. науч. тр.– Ульяновск: УлГТУ.–2021. – С. 166–173.

Публикации 61 - 75 из 646
Начало | Пред. | 3 4 5 6 7 | След. | Конец Все