Публикации

• Glukhov, I. A. Spectral characteristics of a photonic crystal structure with a monolayer of metal nanoparticles / I. A. Glukhov, S. G. Moiseev // Optics and Spectroscopy. – 2023. – Vol. 131, No. 11. – P. 1432–1434. DOI: 10.61011/EOS.2023.11.58034.5107-23.
• Glukhov, I. A. Spectral characteristics of cascade photonic crystal structures with interdomain defects / I. A. Glukhov, S. G. Moiseev // Optics and Spectroscopy. – 2023. – Vol. 131, No. 11. – P. 1401–1404. DOI: 10.61011/EOS.2023.11.58025.5095-23
• V. A. Sergeev, V. A. Estimation of the Inhomogeneity of the Current Density and Temperature Distribution in the Structures of Bipolar and Heterobipolar High-Frequency and Ultrahigh-Frequency Transistors by Recombination Emission / V. A. Sergeev, I. V. Frolov, A. A. Kazankov // Optics and Spectroscopy. – 2023. – Vol. 131, No. 11. – P. 1387–1389. DOI: 10.61011/EOS.2023.11.58021.5050-23
• Vasin, S. V. Modeling and calculation of the distribution of the minimum distance between carbon nanotubes with different degrees of orientation in a polymer matrix / Vasin S. V., Sergeev V. A. // Physics of the Solid State. – 2023. – Vol. 65, No. 12. – P. 2020–2022. DOI: 10.61011/PSS.2023.12.57652.5072k
• Программа экспресс-диагностики и отбраковки солнечных элементов на основе измерения теплового сопротивления / Гавриков А.А., Смирнов В.И., Сергеев В.А. Свидетельство о регистрации программы для ЭВМ 2023664509, 05.07.2023. УФИРЭ Заявка № 2023663373 от 26.06.2023.
• Пат. 2807500 Российская Федерация, МПК H01L 33/04, H05B 45/10. Способ измерения порогового тока светодиода: № 2023112857: 17.05.2023 :  15.11.2023 / В.А.Сергеев, О.А.Радаев, И.В.Фролов; заявитель ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН. – Текст : непосредственный.
• Пат. 2805235 РФ, МПК G01N 25/72. Способ контроля качества проводников многослойных печатных плат / Сергеев В.А., Юдин В.В., Кукшин А.И., Литвинов С.А., Низаметдинов А.М.; патентообладатель Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Ульяновский государственный технический университет». – № 2023106708; заявл. 22.03.2023; опубл. 12.10.2023. Бюл. №29.
• Пат. 2798823 РФ, МПК G01R 31/26. Устройство для измерения приращения тока накачки полупроводникового лазерного диода / Сергеев В. А., Карпеев В.В., Фролов И.В., Кукшин А.И., Юдин В.В., Литвинов С.А.; патентообладатель Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. – № 2023107784; заявл. 28.03.2023; опубл. 28.06.2023. Бюл. №19.
• Пат. 2796812 РФ, МПК G01N 25/18. Способ определения параметров двухзвенной тепловой эквивалентной схемы полупроводникового изделия / Сергеев В. А., Смирнов В. И., Фролов И. В. Горлов М. И.,; патентообладатель Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Ульяновский государственный технический университет». – № 2022110296; заявл. 18.04.2022; опубл. 29.05.2023. Бюл. №16.
• Пат. 2792841 РФ, МПК G01R 31/306. Способ сравнительной оценки стойкости партий интегральных схем к электростатическому разряду / Горлов М. И., Сергеев В. А., Строгонов А. В., Фролов И. В.; патентообладатель Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Ульяновский государственный технический университет». – № 2022121673; заявл. 10.08.2022; опубл. 27.03.2023. Бюл. №9.
• Пат. 2789118 РФ, МПК H01L 33/00. Способ измерения внутреннего квантового выхода светодиода / Фролов И. В., Сергеев В. А.; заявитель и патентообладатель Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. – № 2022120518; заявл. 26.07.2022; опубл. 30.01.2023. Бюл. №4.
• Пат. 2787306 РФ, МПК G01R 31/26. Способ сравнительной оценки стойкости партий интегральных схем к электростатическому разряду / Горлов М. И., Сергеев В. А., Винокуров А. А., Шишкин И. А., Шишкина Н. А., Фролов И. В.; заявитель и патентообладатель Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. – № 2022114145; заявл. 25.05.2022; опубл. 09.01.2023. Бюл. №1.
• Пат. 2787328 РФ, МПК G01R 31/26. Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус и тепловой постоянной времени переход-корпус полупроводникового изделия / Сергеев В. А., Фролов И. В.; заявитель и патентообладатель Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Ульяновский государственный технический университет». – № 2022109319; заявл. 08.04.2022; опубл. 09.01.2023. Бюл. №1.
• Глухов, И. А. Спектральные характеристики фотонно-кристаллической структуры с монослоем металлических наночастиц / И. А. Глухов, С. Г. Моисеев // Оптика и спектроскопия. – 2023. – Т. 131, вып. 11. – С. 1509–1511. DOI: 10.61011/OS.2023.11.57014.5107-23
• Глухов, И. А. Спектральные характеристики каскадных фотонно-кристаллических структур с междоменными дефектами / И. А. Глухов, С. Г. Моисеев // Оптика и спектроскопия. – 2023. – Т. 131, вып. 11. – С. 1475–1478. DOI: DOI: 10.61011/OS.2023.11.57005.5095-23