Публикации

• Сергеев, В. А. Динамическая теплоэлектрическая модель гетеропереходного биполярного транзистора с учетом падения напряжения на эмиттерных дорожках металлизации / В. А. Сергеев, А. М. Ходаков // РЭНСИТ: Радиоэлектроника. Наносистемы. Информационные технологии. – 2023. – Т. 15, № 2. – С. 103–110. DOI: 10.17725/rensit.2023.15.109.
• Сергеев, В. А. Измерение теплового сопротивления переход-корпус интегральных СВЧ-усилителей на гетеробиполярных транзисторах / Сергеев В. А., Смирнов В. И., Гавриков А. А. // Доклады Всероссийской конференции «РЭУС-ИТ 2023» (Москва, 7-9 июня 2023 года). – М.: РНТОРЭС имени А.С. Попова, 2023. – С. 47–50.
• Сергеев, В. А. Оценка неоднородности распределения плотности тока и температуры в структурах биполярных и гетеробиполярных СВЧ транзисторов по рекомбинационному излучению / Сергеев В. А., Фролов И. В. Казанков А. А. – Текст : электронный // Тезисы докладов международной конференции ФизикА.СПб. (г. Санкт-Петербург, 23-27 октября 2023 г.). – Санкт-Петербург: Политех-Пресс, 2023. – С. 234–235.
• Сергеев, В. А. Установка фотоэлектрической диагностики биполярных транзисторных структур / Сергеев В. А., Фролов И. В., Радаев О. А., Казанков А. А. // Cборник докладов Международной конференции «Современные технологии научного приборостроения и информационно-измерительных систем» (г.Москва, 23 июня 2023 г.). – С. 124–127. читать>>
• Сергеев, В. А. Установка для исследования рекомбинационного излучения ВЧ и СВЧ биполярных и гетеробиполярных транзисторов / Сергеев В. А., Казанков А. А., Фролов И. В.// Труды Международного симпозиума «Надежность и качество» (г. Пенза, 29 мая – 2 июня 2023 г.). – Пенза: ПГУ, 2023. – Т. 2. – С. 235–239.
• V. A. Sergeev, Methods and features of measuring the thermal resistance of integrated microwave amplifiers on heterojunction bipolar transistors / V. A. Sergeev, V. I. Smirnov, A. A. Gavrikov // RENSIT: Radioelectronics. Nanosystems. Information Technologies. – 2023. – V. 15(3). – P. 215-222e. DOI: 10.17725/rensit.2023.15.215
• V. A. Sergeev. Dynamic thermoelectric model of a heterojunction bipolar transistor taking into account the voltage drop on the emitter metallization tracks / V. A. Sergeev, A. M. Hodakov. // RENSIT: Radioelectronics. Nanosystems. Information Technologies. – 2023. – V. 15(2). – P. 109–116. DOI: 10.17725/rensit.2023.15.109
• Гавриков, А. А. Измерение температуры перегрева кристалла транзисторного модуля / Гавриков А. А., Ходаков А. М., Смирнов В. И. // Актуальные проблемы физической и функциональной электроники : материалы 26-й Всероссийской молодежной научной конференции (г. Ульяновск, 24-26 октября 2023 года). – Ульяновск : УлГТУ, 2023. – С. 21–23. DOI: 10.61527/APPFE-2023.21-23
• Гавриков А. А. Моделирование тепловых и термомеханических процессов в транзисторных модулях / Гавриков А. А., Ходаков А.М., Смирнов В. И. // Актуальные проблемы физической и функциональной электроники : материалы 26-й Всероссийской молодежной научной конференции (г. Ульяновск, 24-26 октября 2023 года). – Ульяновск : УлГТУ, 2023. – С. 18–20. DOI: 10.61527/APPFE-2023.18-20
• Смирнов, В. И. Теплоэлектрические процессы в многокристальных системах / Смирнов В. И., Ходаков А. М., Гавриков А. А. - Текст : электронный // Журнал радиоэлектроники. – 2023. – № 11.  DOI: 10.30898/1684-1719.2023.11.5
• Смирнов В. И. Моделирование теплоэлектрических процессов в силовых модулях на MOSFET-транзисторах / Смирнов В. И., Ходаков А. М., Гавриков А. А. // РЭНСИТ: Радиоэлектроника. Наносистемы. Информационные технологии. – 2023. – №15(2). – С. 117–124. DOI: 10.17725/rensit.2023.15.117
• Смирнов, В. И. Исследование теплоэлектрических свойств мощных MOSFET-транзисторов / Смирнов В. И., Гавриков А. А. // Известия вузов. Электроника. – 2023. – Т. 28, № 5. – С. 600–611. https://doi.org/10.24151/1561-5405-2023-28-5-600-611
• V. I. Smirnov Modeling of thermoelectrical processes in a power MOSFET modules / V. I. Smirnov, A. M. Hodakov, A. A. Gavrikov // RENSIT: Radioelectronics. Nanosystems. Information Technologies. – 2023. – V. 15(2). – P. 117-124e. DOI: 10.17725/rensit.2023.15.117
• Smirnov, V. I. Measurement of the Thermal Impedance Matrix of Power Modules by the Modulation Method / Smirnov V. I., Gavrikov A. A. // IEEE Transactions on Electron Devices. – 2023. – V. 70, №10. – P. 5223–5227. DOI: 10.1109/TED.2023.3306322
• Сергеев, В. А. Алгоритм оценки параметров флуктуаций интенсивности люминесценции локальных областей кристалла светодиода в режиме электрического пробоя / Сергеев В. А., Казанков А. А., Фролов И. В., Радаев О. А. // Доклады 4-й Всероссийской конференции «Современные технологии обработки сигналов» (СТОС-2023) (г. Москва, 12 – 13 декабря 2023 г.). – М. : РНТОРЭС им. А.С.Попова, 2023. – С.121–124.